Wyszukiwarka
Abstrakt
W artykule przedstawiono mikrosystem do pomiarów bardzo dużych impedancji ukierunkowany na identyfikację parametrów powłok antykorozyjnych metodą spektroskopii impedancyjnej. Do wyznaczania składowych ortogonalnych sygnałów pomiarowych zastosowano w nim technikę cyfrowego przetwarzania sygnałów. Pozwoliła ona na uzyskanie szerokiego zakresu częstotliwości pomiarowych, zwłaszcza bardzo niskich, od ćHz, przy zachowaniu prostej konstrukcji zapewniającej niską cenę mikrosystemu. Przedstawiono badania dwu- i czteroelementowych dwójników RC modelujących powłoki antykorozyjne. Pozwoliły one na identyfikację elementów składowych dwójników z dokładnością nie gorszą niż 2% dla elementów rezystorowych i 2-4% dla pojemnościowych w zależności od wpływu sieci bocznikującej.
Autorzy (3)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Metrology and Measurement Systems
nr 9,
strony 31 - 44,
ISSN: 0860-8229 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2002
- Opis bibliograficzny:
- Hoja J., Lentka G., Zielonko R.: Measurement microsystem for high impedance spectroscopy of anticorrosion coatings// Metrology and Measurement Systems. -Vol. 9., nr. 1 (2002), s.31-44
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 108 razy