Search
Abstract
Zaproponowano klasyfikację przyrządów półprzewodnikowych do grup o zróżnicowanej jakości na podstawie ich szumów własnych z zakresu małych częstotliwości. Przedstawiono metodologię umożliwiającą stwierdzenie, czy zaproponowany parametr szumowy X dla danego typu przyrządu półprzewodnikowego może być stosowany do określenia jakości. Sprecyzowano przebieg badań wstępnych bazujących na ocenie wyników pomiarów szumów własnych z zakresu małych częstotliwości odpowiednio dobranych dwóch prób tendencyjnych składających się z badanych przyrządów. Przytoczono propozycję oszacowania K progów parametru Xthi i = 1,2,...,K w celu podziału danego typu przyrządów półprzewodnikowych na grupy o zróżnicowanej jakości, np. na przyrządy o bardzo dobrej jakości, przyrządy o dobrej jakości, przyrządy o średniej jakości, przyrządy o miernej jakości.Zaproponowana metodyka i procedury badań należy zaliczyć do niedestrukcyjnych.
Citations
-
1
CrossRef
-
0
Web of Science
-
5
Scopus
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Published in:
-
MICROELECTRONICS RELIABILITY
no. 48,
pages 37 - 44,
ISSN: 0026-2714 - Language:
- English
- Publication year:
- 2008
- Bibliographic description:
- Konczakowska A.: Methodology of semiconductor devices classification into groups of differentiated quality // MICROELECTRONICS RELIABILITY. -Vol. 48., nr. nr 1 (2008), s.37-44
- DOI:
- Digital Object Identifier (open in new tab) 10.1016/j.microrel.2006.12.002
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 113 times