Probabilistic evaluation of test architectures for fully differential circuits - Publication - Bridge of Knowledge

Search

Probabilistic evaluation of test architectures for fully differential circuits

Abstract

Artykuł prezentuje model probabilistyczny przeznaczony do oceny, porównania i optymalizacji architektur testujących układy w pełni różnicowe. Model ma postać funkcji rozkładów gęstości prawdopodobieństwa amplitudy i fazy sygnału mierzonego w trakcie testowania. Parametry modelu są wyznaczane za pomocą rozwinięcia funkcji układowej w szereg Taylora. Poprawność modelu sprawdzono poprzez porównanie z wynikami symulacji, uzyskanymi metodą Monte Carlo na przykładzie architektur testujących w pełni różnicowy filtr pasmowoprzepustowy. Wykazano zależność właściwości odpowiedzi układu testowanego od typu architektury testującej i częstotliwości sygnału pobudzającego.

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:
Conference activity
Type:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Title of issue:
16th IMEKO TC4 International Symposium ''Exploring New Frontiers of Instrumentation and Methods for Electrical and Electronic Measurements'' : 13th International Workshop on ADC Modelling and Testing : proceedings, Florence, Italy, September 22-24, 2008 strony 237 - 242
Language:
English
Publication year:
2008
Bibliographic description:
Toczek W.: Probabilistic evaluation of test architectures for fully differential circuits// 16th IMEKO TC4 International Symposium ''Exploring New Frontiers of Instrumentation and Methods for Electrical and Electronic Measurements'' : 13th International Workshop on ADC Modelling and Testing : proceedings, Florence, Italy, September 22-24, 2008/ Florence: cop. IMEKO ; A&T, 2008, s.237-242
Verified by:
Gdańsk University of Technology

seen 51 times

Recommended for you

Meta Tags