Probabilistic evaluation of test architectures for fully differential circuits - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Probabilistic evaluation of test architectures for fully differential circuits

Abstrakt

Artykuł prezentuje model probabilistyczny przeznaczony do oceny, porównania i optymalizacji architektur testujących układy w pełni różnicowe. Model ma postać funkcji rozkładów gęstości prawdopodobieństwa amplitudy i fazy sygnału mierzonego w trakcie testowania. Parametry modelu są wyznaczane za pomocą rozwinięcia funkcji układowej w szereg Taylora. Poprawność modelu sprawdzono poprzez porównanie z wynikami symulacji, uzyskanymi metodą Monte Carlo na przykładzie architektur testujących w pełni różnicowy filtr pasmowoprzepustowy. Wykazano zależność właściwości odpowiedzi układu testowanego od typu architektury testującej i częstotliwości sygnału pobudzającego.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Aktywność konferencyjna
Typ:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Tytuł wydania:
16th IMEKO TC4 International Symposium ''Exploring New Frontiers of Instrumentation and Methods for Electrical and Electronic Measurements'' : 13th International Workshop on ADC Modelling and Testing : proceedings, Florence, Italy, September 22-24, 2008 strony 237 - 242
Język:
angielski
Rok wydania:
2008
Opis bibliograficzny:
Toczek W.: Probabilistic evaluation of test architectures for fully differential circuits// 16th IMEKO TC4 International Symposium ''Exploring New Frontiers of Instrumentation and Methods for Electrical and Electronic Measurements'' : 13th International Workshop on ADC Modelling and Testing : proceedings, Florence, Italy, September 22-24, 2008/ Florence: cop. IMEKO ; A&T, 2008, s.237-242
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 15 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi