Search
Abstract
Przedmiotem artykułu jest, zorientowane na uszkodzenia, testowanie wielostopniowych układów w pełni różnicowych. Zaproponowano metodę testowania z zastosowaniem pobudzenia układu testowanego sygnałem wspólnym. Rozważane są dwa warianty metody. Pierwszy wariant wykorzystuje do pobudzenia wejście każdego różnicowego stopnia. Drugi wariant wykorzystuje dodatkowe wejście wzmacniacza operacyjnego i testuje wielostopniowy układ bez jego podziału na odzielne bloki. Przedmiotem artykułu jest teoretyczna i eksperymentalna weryfikacja metody. Wykazano, że metoda ma przewagę, z punktu widzenia jakości testu, nad wcześniej znaną metodą, która wykorzystuje pobudzenie sygnałem różnicowym. Porównanie przeprowadzono na bazie parametrów jakości testu estymowanych z dokładnością na poziomie ppm. Dla dokładnego wyznaczenia miar jakości testu: poziomu defektów, straty uzysku i pokrycia uszkodzeń, dokonano syntezy modelu probabilistycznego odpowiedzi układu testowanego. Model pozwolił na wyznaczenie parametrów testu w funkcji tolerancji produkcyjnych i niepewności progu komparatora. Metodę zastosowano do testowania filtru pasmowoprzepustowego Deliyannisa-Frienda. Przedstawiono wyniki pomiarów, które weryfikują deterministyczne właściwości metody i wyniki symulacji komputerowych, które weryfikują właściwości probabilistyczne.
Citations
-
3
CrossRef
-
0
Web of Science
-
9
Scopus
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Published in:
-
MICROELECTRONICS RELIABILITY
no. 48,
pages 1890 - 1899,
ISSN: 0026-2714 - Language:
- English
- Publication year:
- 2008
- Bibliographic description:
- Toczek W.: Self-testing of fully differential multistage circuits using common-mode excitation// MICROELECTRONICS RELIABILITY. -Vol. 48., (2008), s.1890-1899
- DOI:
- Digital Object Identifier (open in new tab) 10.1016/j.microrel.2008.09.007
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 112 times