Spektroskopia szumowa. Część II. Badania przyrządów półprzewodnikowych, szumy elektrochemiczne i emisja akustyczna w diagnostyce.

Zdenek Chobola; Lech Hasse; Josef Sikula; Ludwik Spiralski

Spektroskopia szumowa. Część II. Badania przyrządów półprzewodnikowych, szumy elektrochemiczne i emisja akustyczna w diagnostyce.

Abstract

Przedstawiono wyniki pomiaru szumów 1/f tranzystorów z GaAs i ich analizę w spektroskopii. Opisano procedurę klasyfikacji na grupy o zróżnicowanej jakości półprzewodnikowych elementów mocy na podstawie wyników pomiaru szumów małoczęstotliwościowych. Szumy elektrochemiczne stanowią dogodne narzędzie do analizy korozji, zwłaszcza korozji wżerowej. Przedstawiono wyniki pomiaru szumów ogniw słonecznych i ich porównanie z analizą niejednorodności badanych próbek półprzewodnikowych. Opisano technikę diagnostyki obiektów na podstawie analizy sygnałów emisji akustycznej i elektromagnetycznej.

Authors (4)

Zdenek Chobola
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Gdańsk University of Technology
Lech Hasse dr inż.
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Gdańsk University of Technology
Josef Sikula
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Gdańsk University of Technology
Ludwik Spiralski prof. zw. dr hab. inż.
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Gdańsk University of Technology

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:: Articles
Type:: artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Language:: Polish
Publication year:: 2004
Bibliographic description:: Chobola Z., Hasse L., Sikula J., Spiralski L.: Spektroskopia szumowa. Część II. Badania przyrządów półprzewodnikowych, szumy elektrochemiczne i emisja akustyczna w diagnostyce.// . -., (2004), s.0-0
Verified by:: Gdańsk University of Technology