Search
Abstract
W artykule zostanie zaprezentowany opis systemu pomiarowego zawierającego zaprojektowaną głowicę pomiarową do pomiarów szumów generowanych przez elementy optoelektroniczne. Przedstawione zostaną wyniki testów funkcjonowania systemu pomiarowego dla diod LED dla prądu wynoszącego ID = 2 mA. Pomiar odbywał się w zakresie małych częstotliwości czyli do 1 kHz. Głowica pomiarowa została zbudowana w sposób minimalizujący wpływ zakłóceń zewnętrznych na działanie układu.
Authors (2)
Cite as
Full text
download paper
downloaded 149 times
- Publication version
- Accepted or Published Version
- License
-
open in new tab
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
pages 131 - 134,
ISSN: 1425-5766 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2017
- Bibliographic description:
- Sprawka D., Stawarz-Graczyk B.: System do pomiaru szumów elementów optoelektronicznych w szerokim zakresie prądów// Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej. -., iss. 57 (2017), s.131-134
- Bibliography: test
-
show (9) hide
- Belyakov A. V., Perov M. Yu., Yakimov A. V., Vandamme L. K. J.: Burst and 1/f noise in light- emitting diodes with quantum dots. Radiophysics and Quantum Electronics, vol. 49, No. 5, 2006, s. 397-405. open in new tab
- Celik-Butler Z.: Measurement and analysis methods for Random Telegraph Signals in Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices. Ed. by J. Sikula and M. Levinshtein, NATO Science Series, vol. 151, 2003, s. 219-226. open in new tab
- Claeys C., Simoen E.: Noise as a diagnostic tool for semiconductor material and device characterization. J. Electrochem. Soc., vol. 145, No. 6, 1998, s. 2058- 2067. open in new tab
- Hooge F. N.: 1/f noise is no surface effect. Physics Letters, vol. 29A, No. 3, 1969, s. 139-140. open in new tab
- Jevtic M.: Low frequency noise as a tool to study optocouplers with phototransistors. Microelectronic Reliability, vol. 44, 2004, s. 1123-1129. open in new tab
- Jones B. K.: Electrical noise as a reliability indicator in electronic devices and components. IEEE Proc.- Circuits Devices Syst. vol. 149, No. 1, 2002, s. 13-22. open in new tab
- Konczakowska A.: Szumy z zakresu małych częstotliwości. Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych. Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT, Warszawa, 2006.
- Analog.com, OP27GPZ datasheet, http://www.analog. com/media/en/technical-documentation/data- sheets/OP27.pdf, (data dostępu 21.09.2016 r.). open in new tab
- Analog.com, OP37GPZ datasheet, http://www.analog. com/media/en/technical-documentation/data- sheets/OP37.pdf, (data dostępu 21.09.2016 r.). open in new tab
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 90 times
Recommended for you
Low-frequency current noise in electrochromic devices
- J. Smulko,
- A. Azens,
- L. B. Kish
- + 1 authors
2008