Abstrakt
W artykule zostanie zaprezentowany opis systemu pomiarowego zawierającego zaprojektowaną głowicę pomiarową do pomiarów szumów generowanych przez elementy optoelektroniczne. Przedstawione zostaną wyniki testów funkcjonowania systemu pomiarowego dla diod LED dla prądu wynoszącego ID = 2 mA. Pomiar odbywał się w zakresie małych częstotliwości czyli do 1 kHz. Głowica pomiarowa została zbudowana w sposób minimalizujący wpływ zakłóceń zewnętrznych na działanie układu.
Autorzy (2)
Cytuj jako
Pełna treść
pobierz publikację
pobrano 149 razy
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- Licencja
- otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
strony 131 - 134,
ISSN: 1425-5766 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2017
- Opis bibliograficzny:
- Sprawka D., Stawarz-Graczyk B.: System do pomiaru szumów elementów optoelektronicznych w szerokim zakresie prądów// Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej. -., iss. 57 (2017), s.131-134
- Bibliografia: test
-
- Belyakov A. V., Perov M. Yu., Yakimov A. V., Vandamme L. K. J.: Burst and 1/f noise in light- emitting diodes with quantum dots. Radiophysics and Quantum Electronics, vol. 49, No. 5, 2006, s. 397-405. otwiera się w nowej karcie
- Celik-Butler Z.: Measurement and analysis methods for Random Telegraph Signals in Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices. Ed. by J. Sikula and M. Levinshtein, NATO Science Series, vol. 151, 2003, s. 219-226. otwiera się w nowej karcie
- Claeys C., Simoen E.: Noise as a diagnostic tool for semiconductor material and device characterization. J. Electrochem. Soc., vol. 145, No. 6, 1998, s. 2058- 2067. otwiera się w nowej karcie
- Hooge F. N.: 1/f noise is no surface effect. Physics Letters, vol. 29A, No. 3, 1969, s. 139-140. otwiera się w nowej karcie
- Jevtic M.: Low frequency noise as a tool to study optocouplers with phototransistors. Microelectronic Reliability, vol. 44, 2004, s. 1123-1129. otwiera się w nowej karcie
- Jones B. K.: Electrical noise as a reliability indicator in electronic devices and components. IEEE Proc.- Circuits Devices Syst. vol. 149, No. 1, 2002, s. 13-22. otwiera się w nowej karcie
- Konczakowska A.: Szumy z zakresu małych częstotliwości. Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych. Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT, Warszawa, 2006.
- Analog.com, OP27GPZ datasheet, http://www.analog. com/media/en/technical-documentation/data- sheets/OP27.pdf, (data dostępu 21.09.2016 r.). otwiera się w nowej karcie
- Analog.com, OP37GPZ datasheet, http://www.analog. com/media/en/technical-documentation/data- sheets/OP37.pdf, (data dostępu 21.09.2016 r.). otwiera się w nowej karcie
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 90 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Low-frequency current noise in electrochromic devices
- J. Smulko,
- A. Azens,
- L. B. Kish
- + 1 autorów
2008