System do pomiaru szumów elementów optoelektronicznych w szerokim zakresie prądów - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

System do pomiaru szumów elementów optoelektronicznych w szerokim zakresie prądów

Abstrakt

W artykule zostanie zaprezentowany opis systemu pomiarowego zawierającego zaprojektowaną głowicę pomiarową do pomiarów szumów generowanych przez elementy optoelektroniczne. Przedstawione zostaną wyniki testów funkcjonowania systemu pomiarowego dla diod LED dla prądu wynoszącego ID = 2 mA. Pomiar odbywał się w zakresie małych częstotliwości czyli do 1 kHz. Głowica pomiarowa została zbudowana w sposób minimalizujący wpływ zakłóceń zewnętrznych na działanie układu.

Cytuj jako

Pełna treść

pobierz publikację
pobrano 149 razy
Wersja publikacji
Accepted albo Published Version
Licencja
Creative Commons: CC-BY-NC-ND otwiera się w nowej karcie

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej strony 131 - 134,
ISSN: 1425-5766
Język:
polski
Rok wydania:
2017
Opis bibliograficzny:
Sprawka D., Stawarz-Graczyk B.: System do pomiaru szumów elementów optoelektronicznych w szerokim zakresie prądów// Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej. -., iss. 57 (2017), s.131-134
Bibliografia: test
  1. Belyakov A. V., Perov M. Yu., Yakimov A. V., Vandamme L. K. J.: Burst and 1/f noise in light- emitting diodes with quantum dots. Radiophysics and Quantum Electronics, vol. 49, No. 5, 2006, s. 397-405. otwiera się w nowej karcie
  2. Celik-Butler Z.: Measurement and analysis methods for Random Telegraph Signals in Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices. Ed. by J. Sikula and M. Levinshtein, NATO Science Series, vol. 151, 2003, s. 219-226. otwiera się w nowej karcie
  3. Claeys C., Simoen E.: Noise as a diagnostic tool for semiconductor material and device characterization. J. Electrochem. Soc., vol. 145, No. 6, 1998, s. 2058- 2067. otwiera się w nowej karcie
  4. Hooge F. N.: 1/f noise is no surface effect. Physics Letters, vol. 29A, No. 3, 1969, s. 139-140. otwiera się w nowej karcie
  5. Jevtic M.: Low frequency noise as a tool to study optocouplers with phototransistors. Microelectronic Reliability, vol. 44, 2004, s. 1123-1129. otwiera się w nowej karcie
  6. Jones B. K.: Electrical noise as a reliability indicator in electronic devices and components. IEEE Proc.- Circuits Devices Syst. vol. 149, No. 1, 2002, s. 13-22. otwiera się w nowej karcie
  7. Konczakowska A.: Szumy z zakresu małych częstotliwości. Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych. Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT, Warszawa, 2006.
  8. Analog.com, OP27GPZ datasheet, http://www.analog. com/media/en/technical-documentation/data- sheets/OP27.pdf, (data dostępu 21.09.2016 r.). otwiera się w nowej karcie
  9. Analog.com, OP37GPZ datasheet, http://www.analog. com/media/en/technical-documentation/data- sheets/OP37.pdf, (data dostępu 21.09.2016 r.). otwiera się w nowej karcie
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 90 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi