Search
Uwarunkowania aparaturowe wymagane przy pomiarze prądów szumów m.cz. struktur tranzystorów submikronowych.
Abstract
W artykule przedstawiono metodę pomiaru szumów struktur tranzystorów submikronowych wykorzystującą przetwornik prąd-napięcie ze wzmacniaczem operacyjnym. Przedstawiono czynniki wpływające na dokładność prowadzonych pomiarów szumów oraz sposoby zmniejszania tego wpływu.
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
pages 38 - 39,
ISSN: 0033-2089 - Language:
- Polish
- Publication year:
- 2002
- Bibliographic description:
- Szewczyk A.: Uwarunkowania aparaturowe wymagane przy pomiarze prądów szumów m.cz. struktur tranzystorów submikronowych. // ELEKTRONIKA- KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA. -., nr. 6 (2002), s.38-39
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 62 times