Uwarunkowania aparaturowe wymagane przy pomiarze prądów szumów m.cz. struktur tranzystorów submikronowych. - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Uwarunkowania aparaturowe wymagane przy pomiarze prądów szumów m.cz. struktur tranzystorów submikronowych.

Abstrakt

W artykule przedstawiono metodę pomiaru szumów struktur tranzystorów submikronowych wykorzystującą przetwornik prąd-napięcie ze wzmacniaczem operacyjnym. Przedstawiono czynniki wpływające na dokładność prowadzonych pomiarów szumów oraz sposoby zmniejszania tego wpływu.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania strony 38 - 39,
ISSN: 0033-2089
Język:
polski
Rok wydania:
2002
Opis bibliograficzny:
Szewczyk A.: Uwarunkowania aparaturowe wymagane przy pomiarze prądów szumów m.cz. struktur tranzystorów submikronowych. // ELEKTRONIKA- KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA. -., nr. 6 (2002), s.38-39
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 5 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi