Wyszukiwarka
Uwarunkowania aparaturowe wymagane przy pomiarze prądów szumów m.cz. struktur tranzystorów submikronowych.
Abstrakt
W artykule przedstawiono metodę pomiaru szumów struktur tranzystorów submikronowych wykorzystującą przetwornik prąd-napięcie ze wzmacniaczem operacyjnym. Przedstawiono czynniki wpływające na dokładność prowadzonych pomiarów szumów oraz sposoby zmniejszania tego wpływu.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
strony 38 - 39,
ISSN: 0033-2089 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2002
- Opis bibliograficzny:
- Szewczyk A.: Uwarunkowania aparaturowe wymagane przy pomiarze prądów szumów m.cz. struktur tranzystorów submikronowych. // ELEKTRONIKA- KONSTRUKCJE, TECHNOLOGIE, ZASTOSOWANIA. -., nr. 6 (2002), s.38-39
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 62 razy