Wpływ charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w technice OLCR na jej właściwości metrologiczne

Marcin Strąkowski; Małgorzata Szczerska; Maciej Maciejewski; Ryszard Hypszer; Bogdan Kosmowski; Jerzy Pluciński

Wpływ charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w technice OLCR na jej właściwości metrologiczne

Abstract

W artykule przedstawiono zasady, na których oparta jest metoda OLCR, możliwości jej wykorzystania oraz wpływ czynników ograniczających jej zdolności pomiarowe. Zaprezentowano konstrukcję światłowodowego niskokoherencyjnego, reflektometrycznego systemu pomiarowego. Przedstawiono wyniki badań teoretycznych i doświadczalnych wpływu charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w systemie na rozdzielczość pomiaru.

Authors (6)

Marcin Strąkowski dr inż.
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Gdańsk University of Technology
Małgorzata Szczerska prof. dr hab. inż.
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Gdańsk University of Technology
Maciej Maciejewski
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Gdańsk University of Technology
Ryszard Hypszer dr inż.
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Gdańsk University of Technology
Bogdan Kosmowski dr hab. inż.
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Gdańsk University of Technology
Jerzy Pluciński dr hab. inż.
- Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics
- Gdańsk University of Technology

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:: Conference activity
Type:: publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Language:: Polish
Publication year:: 2005
Bibliographic description:: Strąkowski M., Jędrzejewska-Szczerska M., Maciejewski M., Hypszer R., Kosmowski B., Pluciński J.: Wpływ charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w technice OLCR na jej właściwości metrologiczne // / : , 2005,
Verified by:: Gdańsk University of Technology