Search
Zastosowanie układów testowych STA 400 z magistralą testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych
Abstract
Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do diagnostyki wybranych struktur analogowych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400 opracowanych w końcu 2001 r. w firmie NationalSemiconductor i Logic Vision. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena dla 3 i 5-elementowych układów rezystancyjnych. Przedstawiono metodykę testów i wyniki identyfikacji uszkodzeń. Wykonane badania wykazały, że za pomocą magistrali możliwa jest diagnostyka wybranych struktur analogowych na poziomie identyfikacji uszkodzeń. Zaprezentowano również wyniki badań właściwości metrologicznych układu STA400.
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Title of issue:
- [Materiały] MWK´2003. VI Szkoła-Konferencja Metrologia Wspomagana Komputerowo. Waplewo, 26-29 maja 2003 strony 209 - 214
- Language:
- Polish
- Publication year:
- 2003
- Bibliographic description:
- Bartosiński B.: Zastosowanie układów testowych STA 400 z magistralą testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych// [Materiały] MWK´2003. VI Szkoła-Konferencja Metrologia Wspomagana Komputerowo. Waplewo, 26-29 maja 2003/ Warszawa: Inst. Podst. Elektron.Wydz. Elektron. WAT, 2003, s.209-214
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 61 times