Zastosowanie układów testowych STA 400 z magistralą testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Zastosowanie układów testowych STA 400 z magistralą testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych

Abstrakt

Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do diagnostyki wybranych struktur analogowych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400 opracowanych w końcu 2001 r. w firmie NationalSemiconductor i Logic Vision. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena dla 3 i 5-elementowych układów rezystancyjnych. Przedstawiono metodykę testów i wyniki identyfikacji uszkodzeń. Wykonane badania wykazały, że za pomocą magistrali możliwa jest diagnostyka wybranych struktur analogowych na poziomie identyfikacji uszkodzeń. Zaprezentowano również wyniki badań właściwości metrologicznych układu STA400.

Pełna treść

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Aktywność konferencyjna
Typ:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Tytuł wydania:
[Materiały] MWK´2003. VI Szkoła-Konferencja Metrologia Wspomagana Komputerowo. Waplewo, 26-29 maja 2003 strony 209 - 214
Język:
polski
Rok wydania:
2003
Opis bibliograficzny:
Bartosiński B.: Zastosowanie układów testowych STA 400 z magistralą testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych// [Materiały] MWK´2003. VI Szkoła-Konferencja Metrologia Wspomagana Komputerowo. Waplewo, 26-29 maja 2003/ Warszawa: Inst. Podst. Elektron.Wydz. Elektron. WAT, 2003, s.209-214
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 5 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi