Didn't find any results in this catalog!
But we have some results in other catalogs.Filters
total: 2017
-
Catalog
- Publications 1425 available results
- Journals 5 available results
- People 100 available results
- Inventions 12 available results
- Projects 10 available results
- Laboratories 12 available results
- Research Teams 26 available results
- Research Equipment 4 available results
- e-Learning Courses 383 available results
- Events 11 available results
- Offers 1 available results
- Open Research Data 28 available results
displaying 1000 best results Help
Search results for: DIAGNOSTYKA UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH
-
Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą
PublicationWzrost złożoności i miniaturyzacji układów oraz urządzeń elektronicznych, przyczyniając się do polepszenia ich parametrów użytkowych i obniżania kosztów wytwarzania, wiąże się z niepożądanymi efektami ubocznymi, takimi jak wzrost kosztów aparatury pomiarowo-kontrolnej oraz wzrost pracochłonności, związanej z opracowaniem metod i programów testujących. Problemy te są inspiracją do rozwinięcia metod projektowania tzw. testowalnych...
-
Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących
PublicationPrzedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto...
-
Diagnostyka uszkodzeń analogowych układów elektronicznych z zastosowaniem specjalizowanej sieci neuronowej
PublicationNa tle trendów rozwojowych diagnostyki analogowych układów elektronicznych AEC (Analog Electronic Circuits), przedstawiono nową metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, ze specjalizowanym klasyfikatorem neuronowym, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zastosowano specjalizowaną sieć neuronową z dwucentrowymi funkcjami bazowymi TCRBF (Two-center Radial Basis Function),...
-
Internetowa telediagnostyka układów elektronicznych.
PublicationPrzedstawiono realizację sprzętową i programistyczną prototypowej usługi sieciowej, której zadaniem jest testowanie i lokalizowanie uszkodzeń w mieszanych sygnałowo układach elektronicznych za pośrednictwem Internetu.
-
Strategie testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych
PublicationPraca dotyczy testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych metodami zorientowanymi na uszkodzenia. Omówiono źródła i klasyfikację uszkodzeń, strategie testowania wykorzystujące nadmiarowość analityczną i sprzętową, wewnątrzobwodowe testowanie pakietów elektronicznych oraz zastosowanie algorytmów klasyfikacji obrazów do lokalizacji uszkodzeń. Wynikiem prac w zakresie metod analitycznych jest opracowanie przyspieszonej...
-
Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych
PublicationRozrzuty tolerancyjne silnie wpływają na proces decyzyjny, oparty na testowaniu w pełni róznicowych układów elektronicznych metodą zorientowaną na uszkodzenia. Skutkiem tolerancji są napięcia rezidualne w nieuszkodzonym układzie testowanym, oraz niepewność progu komparacji w układzie testującym. W rezultacie pojawia się ryzyko błędnej diagnozy. W artykule dokonano syntezy probabilistycznego modelu odpowiedzi układu testowanego...
-
Testowanie i diagnostyka układów w pełni różnicowych
PublicationZaproponowano tester wbudowany realizujący nowe podejście do testowania układów w pełni różnicowych, polegające na pobudzaniu układu sygnałem wspólnym i pomiarze wyjściowego napięcia różnicowego. Tester wykrywa uszkodzenia parametryczne i strukturalne, które powodują zaburzenie symetrii układu i w rezultacie wzrost wartości napięcia różnicowego. Przeprowadzono analizę właściwości diagnostycznych funkcji układowej, na której bazuje...
-
System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych
PublicationPrzedmiotem artykułu jest komputerowy system laboratoryjny do testowania parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. W systemie wykorzystano dwa generatory 33120A oraz multimetr 34401A dołączone do komputera za pośrednictwem interfejsu RS232. Oprogramowanie sterujące pracą systemu zrealizowano w środowisku Matlab. W systemie zaimplementowano metodę testowania polegającą na pobudzaniu układu...
-
Zastosowanie hybrydowych systemów ekspertowych do wspomagania projektowania układów elektronicznych.
PublicationW pracy przedstawiono koncepcję i praktyczną realizację obiektowo zorientowanego hybrydowego systemu ekspertowego sterowanego regułami, współpracującego ze sztuczną siecią neuronową, systemem klasyfikatorów genetycznych i systemem z rozumowaniem sytuacyjnym. Jest to system hybrydowy i może być efektywnie wykorzystany do budowy złożonych systemów ekspertowych.
-
Diagnostyka układów automatycznej synchronizacji prądnic w czasie rzeczywistym
PublicationW referacie omówiono prototyp układu do badań UASP w czasie rzeczywistym. Szczególną uwagę poświęcono metodyce prowadzenia badań, architekturze sprzętowej urządzenia, modelom matematycznym układów regulacji napięcia i prędkości kątowej w nim zaimplementowanym oraz systemowi komputerowemu urządzenia. Wskazano na celowość stosowania urządzeń na rzeczywistych obiektach oraz omówiono korzyści z nich wynikające.