Search results for: PROJEKTOWANIE UKŁADÓW ELEKTRONICZNYCH

• Internetowa telediagnostyka układów elektronicznych.

  Publication

  • A. Adamczyk
  • M. Wierzbicki

  - Year 2003

  Przedstawiono realizację sprzętową i programistyczną prototypowej usługi sieciowej, której zadaniem jest testowanie i lokalizowanie uszkodzeń w mieszanych sygnałowo układach elektronicznych za pośrednictwem Internetu.

• Diagnostyka układów elektronicznych z magistralą testującą

  Publication

  • M. Borkowska
  • M. Gonera
  • J. Kern

  - Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania - Year 2002

  Wzrost złożoności i miniaturyzacji układów oraz urządzeń elektronicznych, przyczyniając się do polepszenia ich parametrów użytkowych i obniżania kosztów wytwarzania, wiąże się z niepożądanymi efektami ubocznymi, takimi jak wzrost kosztów aparatury pomiarowo-kontrolnej oraz wzrost pracochłonności, związanej z opracowaniem metod i programów testujących. Problemy te są inspiracją do rozwinięcia metod projektowania tzw. testowalnych...

• Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących

  Publication

  • B. Bartosiński

  - Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne - Year 2008

  Przedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto...

• Strategie testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych

  Publication

  • W. Toczek

  - Year 2009

  Praca dotyczy testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych metodami zorientowanymi na uszkodzenia. Omówiono źródła i klasyfikację uszkodzeń, strategie testowania wykorzystujące nadmiarowość analityczną i sprzętową, wewnątrzobwodowe testowanie pakietów elektronicznych oraz zastosowanie algorytmów klasyfikacji obrazów do lokalizacji uszkodzeń. Wynikiem prac w zakresie metod analitycznych jest opracowanie przyspieszonej...

• Projektowanie układów elektronicznych - 2022

  e-Learning Courses

  • P. Wierzba

  EiT, I st., sem. 7, Opto Kierunek: Elektronika i telekomunikacja Studia inżynierskie (I stopnia)Profil: OptoelektronikaRok 4Semestr 7

• Projektowanie układów elektronicznych - 2023

  e-Learning Courses

  • R. Bogdanowicz
  • P. Wierzba
  • A. Mazikowski
  • K. Karpienko

  EiT, I st., sem. 7, Opto Kierunek: Elektronika i telekomunikacja Studia inżynierskie (I stopnia)Profil: OptoelektronikaRok 4Semestr 7

• Zastosowanie hybrydowych systemów ekspertowych do wspomagania projektowania układów elektronicznych.

  Publication

  • M. Kłosowski

  - Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne - Year 2003

  W pracy przedstawiono koncepcję i praktyczną realizację obiektowo zorientowanego hybrydowego systemu ekspertowego sterowanego regułami, współpracującego ze sztuczną siecią neuronową, systemem klasyfikatorów genetycznych i systemem z rozumowaniem sytuacyjnym. Jest to system hybrydowy i może być efektywnie wykorzystany do budowy złożonych systemów ekspertowych.

• Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych

  Publication

  • W. Toczek

  - Diagnostyka - Year 2008

  Rozrzuty tolerancyjne silnie wpływają na proces decyzyjny, oparty na testowaniu w pełni róznicowych układów elektronicznych metodą zorientowaną na uszkodzenia. Skutkiem tolerancji są napięcia rezidualne w nieuszkodzonym układzie testowanym, oraz niepewność progu komparacji w układzie testującym. W rezultacie pojawia się ryzyko błędnej diagnozy. W artykule dokonano syntezy probabilistycznego modelu odpowiedzi układu testowanego...

  Full text available to download

• System laboratoryjny do identyfikacji uszkodzeń parametrycznych analogowych układów elektronicznych

  Publication

  • M. Kowalewski

  - Year 2005

  Przedmiotem artykułu jest komputerowy system laboratoryjny do testowania parametrów funkcjonalnych analogowych układów elektronicznych w dziedzinie czasu. W systemie wykorzystano dwa generatory 33120A oraz multimetr 34401A dołączone do komputera za pośrednictwem interfejsu RS232. Oprogramowanie sterujące pracą systemu zrealizowano w środowisku Matlab. W systemie zaimplementowano metodę testowania polegającą na pobudzaniu układu...

• Projektowanie układów ramowych z zastosowaniem analizy wrażliwości

  Publication

  • T. Ferenc

  - Zeszyty Naukowe Politechniki Gdańskiej. Inżynieria Lądowa i Wodna - Year 2015

  W pracy przedstawiono przykład projektowania układów ramowych z zastosowaniem analizy wrażliwości. Rozważane układy ramowe rozwiązano autorskim programem napisanym w środowisku MATLAB, metodą elementów skończonych. Badano wpływ zmiany modułu Younga oraz wpływ zmiany wielkości przekroju poprzecznego na wybrane przemieszczenia ramy. Przedstawiono wyniki dla analizy wrażliwości jedno i wieloparametrycznej.