Search
Search results for: PLZT
-
LTCC compatible PLZT thick-films for piezoelectric devices.
PublicationOpisano proces produkcji grubych warstw PLZT oraz pomiary ich dielektrycznych i piezoelektrycznych parametrów. Temperatura obróbki termicznej (850 stopni C) czyni te warstwy kompatybilnymi z technologią LTCC.
-
Szybkie elektrooptyczne układy próbkujące wykorzystujące ferroelektryczną ceramikę PLZT
PublicationW artykule omówiono konstrukcje elektrooptycznych układów próbkujących wykorzystujących ceramikę PLZT. Zaprezentowano także zagadnienia związane z pomiarami istotnych parametrów cienkich warstw tej ceramiki - grubości warstwy, współczynnika załamania i współczynnika elektrooptycznego. Przedstawiono kierunki dalszych prac.
-
Determination of local polarization properties of PLZT ceramics by PS-OCT
Publication.
-
Badanie niejednorodności warstwy ceramiki PLZT metodami optycznej interferometrii niskokoherentnej
PublicationW artykule omówiono metodę badania wewnętrznej struktury materiałów ceramicznych z wykorzystaniem interferometrii niskokoherentnej. Przedstawiono układ pomiarowy optycznej tomografii koherentnej, wykorzystujący niskokoherentny interferometr do badania niejednorodności występujących w strukturze ośrodków rozpraszających. Zaprezentowano wyniki pomiarów grubości i niejednorodności ceramicznych warstw PLZT. Przeprowadzono rozważania...
-
Badanie niejednorodności warstwy ceramiki PLZT metodami optycznej interferometrii niskokoherentnej
PublicationW artykule omówiono metodę badania wewnętrznej struktury materiałów ceramicznych z wykorzystaniem interferometrii niskokoherentnej. Przedstawiono układ pomiarowy optycznej tomografii koherentnej, wykorzystujący niskokoherentny interferometr do badania niejednorodności występujących w strukturze ośrodków rozpraszających. Zaprezentowano wyniki pomiarów grubości i niejednorodności ceramicznych warstw PLZT. Przeprowadzono rozważania...
-
Characterization of PLZT Thin Films for Fast Electro-Optical Sampling Circuits
PublicationW artykule omówiono technologię wytwarzania cienkich warstw wybranych kompozycji ceramik ołowiowo-lantanowo-cyrkonowo-tytanowych, nazywanych ceramikami PLZT. Przedstawiono wyniki badań jakości warstw za pomocą techniki XRD. wyniki pomiaru grubości warstw, ich względnej przenikalności dielektrycznej i współczynnika załamania. Omówiono kierunki dalszych prac.
-
Ferroelectric LTCC tape for piezoelectric applications
PublicationOpisano opracowanie surowej taśmy LTCC do zastosowań piezoelektrycznych. Wybór bazuje na modyfikowanej lantanem kompozycji cyrkoniano-tytanioołowiu (PLZT). Opisano proces produkcji taśmy, wykonanie próbek ceramicznych z użyciem tej taśmy, zastosowane metody pomiarowe oraz dielektryczne i piezoelektryczne parametry wyprodukowanych próbek.
-
Optyczna tomografia niskokoherentna w badaniach obiektów technicznych
PublicationW pracy przedstawiono polaryzacyjny system OCT pracujący w dziedzinie czasu z detekcją zrównoważoną do badań obiektów technicznych. Obiektem badań z wykorzystaniem tego systemu były warstwy wykonane z ceramiki PLZT 9/65/35. Mierzone były grubości tych warstw i ich jednorodność.
-
Optical low-coherence interferometry for selected technical applications
PublicationW artykule przedstawiono teoretyczne podstawy optycznej interferometrii niskokoherentnej i przedyskutowano jej unikatowe właściwości. Opisano w nim opracowany przez autorów system OCT przeznaczony do badań strukturalnych materiałów technicznych. Badania te obejmują także zmiany stanu polaryzacji promieniowania rozproszonego w badanym obiekcie. W artykule zawarto wyniki badań wybranych materiałów silnie rozpraszających promieniowanie...