inż. Marek Sienkiewicz
Zatrudnienie
- Specjalista w Katedra Metrologii i Optoelektroniki
Obszary badawcze
- Brak danych
Zespoły Badawcze (Członek zespołu)
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
wyświetlono 335 razy