Opis
X-ray Photoelectron Spectroscopy analysis (XPS) was performed using an Omicron NanoTechnology X-ray photoelectron spectrometer with a 128-channel collector. The XPS measurements were performed under ultra-high vacuum conditions. Photoelectrons were excited by an Mg-Kα X-ray source with an X-ray anode operated at 15 keV and 300 W. The spectra were deconvoluted using the XPSPEAK software. Studied material was Sr0.90Ti0.30Fe0.70O3-d.
Plik z danymi badawczymi
XPS_Fe2p_STF70-x_0.90.xlsx
68.0 kB,
S3 ETag
7820ce15aefd55eeda7531f6cdff9d09-1,
pobrań: 0
Hash pliku liczony jest ze wzoru
Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count}
gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MBPrzykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
Informacje szczegółowe o pliku
- Licencja:
-
otwiera się w nowej karcie
CC BYUznanie autorstwa
Informacje szczegółowe
- Rok publikacji:
- 2025
- Powiązana lokacja:
- Gdańsk, województwo pomorskie, Polska (54° 22′ 16″ N, 18° 37′ 16″ E)
- Data zatwierdzenia:
- 2025-04-30
- Język danych badawczych:
- angielski
- Dyscypliny:
-
- Automatyka, elektronika i elektrotechnika (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria mechaniczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- DOI:
- Identyfikator DOI 10.34808/qhzb-mv52 otwiera się w nowej karcie
- Finansowanie:
- Seria:
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
Słowa kluczowe
Powiązane zasoby
Cytuj jako
Autorzy
wyświetlono 0 razy