Structure and optical measurements of Eu doped tellurium oxide thin films - Open Research Data - MOST Wiedzy

Twoje konto

zaloguj

Wyszukiwarka

Structure and optical measurements of Eu doped tellurium oxide thin films

Opis

Thin films were deposited by magnetron sputtering method and simultaneously heated at 200 oC. Presence of Eu ions and their valence states was confirmed by X-ray photoemission spectroscopy measurements. The structure of the films as well as the influence of europium dopant on crystalline structure of the films was examined by X-ray diffraction method.  Morphology of the samples was observed by atomic force microscope. Doping by europium didn’t change structural parameters. Optical measurements showed photoluminescence from Eu2+ and Eu3+ ions. However, in the spectrum there is no line corresponding to 5D0 -> 7F2 transition due to an electric-dipole transition, usually present in amorphous surrounding.

Plik z danymi badawczymi

TeOx.zip
1.5 MB, S3 ETag b60cc62aaf89152adf900416f1134bb6-1, pobrań: 53
Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
pobierz plik TeOx.zip

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:
Creative Commons: by-nc 4.0 otwiera się w nowej karcie
CC BY-NC
Użycie niekomercyjne
Oprogramowanie:
origin

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:
2019
Data zatwierdzenia:
2021-05-14
Język danych badawczych:
angielski
Dyscypliny:
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
DOI:
Identyfikator DOI https://doi.org/10.1016/j.tsf.2019.137592 otwiera się w nowej karcie
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Cytuj jako

Autorzy

wyświetlono 112 razy