Wyszukiwarka
The scanning spreading resistance microscopy (SSRM) studies of heavy boron-doped diamond oxidation under high-temperature
Opis
The dataset contains the results of scanning spreading resistance microscopy (SSRM) of heavy boron-doped diamond (BDD) electrodes subjected to high-temperature oxidation in a furnace at 600 Celsius. The micrographs reveal the local change of electric properties at certainly crystallographic orientations of BDD grains and at the grain boundaries due to modification of surface termination in some cases followed by material decomposition.
These and similar results were part of the studies described within the manuscript in Materials journal (10.3390/ma13040964) and in Ultramicroscopy journal (10.1016/j.ultramic.2019.01.004)
Plik z danymi badawczymi
Dataset_BDD.mdt
2.3 MB,
S3 ETag
be8e7bf77f8122f9a15ebfe87140ad61-1,
pobrań: 21
Hash pliku liczony jest ze wzoru
Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MBPrzykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
Informacje szczegółowe o pliku
- Licencja:
-
otwiera się w nowej karcie
CC BY-NC-SAUżycie niekomercyjne - Na tych samych warunkach - Dane surowe:
- Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
- Oprogramowanie:
- Gwyddion
Informacje szczegółowe
- Rok publikacji:
- 2020
- Data zatwierdzenia:
- 2020-12-17
- Język danych badawczych:
- angielski
- Dyscypliny:
-
- inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- nauki chemiczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
- Automatyka, elektronika i elektrotechnika (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- DOI:
- Identyfikator DOI 10.34808/bv83-5017 otwiera się w nowej karcie
- Finansowanie:
- Seria:
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
Słowa kluczowe
- scanning spreading resistance microscopy
- SSRM
- boron-doped diamond
- high-temperature oxidation
- surface electric properties
Powiązane zasoby
- publikacja High-Temperature Oxidation of Heavy Boron-Doped Diamond Electrodes: Microstructural and Electrochemical Performance Modification
- publikacja Multifrequency Nanoscale Impedance Microscopy (m-NIM): A novel approach towards detection of selective and subtle modifications on the surface of polycrystalline boron-doped diamond electrodes
- dane badawcze The scanning electron microscopy (SEM) studies of heavy boron-doped diamond oxidation under high-temperature
Cytuj jako
Autorzy
wyświetlono 99 razy