X-ray diffraction of ZnIn2S4 layers on FTO deposited using PLD - Open Research Data - MOST Wiedzy

Twoje konto

zaloguj

Wyszukiwarka

X-ray diffraction of ZnIn2S4 layers on FTO deposited using PLD

Opis

Data show XRD results for ZnIn2S4 layers deposited using pulsed laser deposition (PLD) on FTO glass.

Plik z danymi badawczymi

FTO_ZIS_PLD XRD.zip
121.1 kB, S3 ETag 1de98450cfc7fd377c7d9d47fcb44b90-1, pobrań: 0
Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
pobierz plik FTO_ZIS_PLD XRD.zip

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:
Creative Commons: 0 1.0 otwiera się w nowej karcie
CC 0
Przekazanie do Domeny Publicznej
Dane surowe:
Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:
2025
Data zatwierdzenia:
2025-03-25
Język danych badawczych:
angielski
Dyscypliny:
  • nauki chemiczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
DOI:
Identyfikator DOI 10.34808/m9ps-ts55 otwiera się w nowej karcie
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Cytuj jako

eksportuj:

Trwa wczytywanie...

Autorzy

wyświetlono 0 razy