Comparative study of donor-induced quantum dots in Si nano-channels by single-electron transport characterization and Kelvin probe force microscopy

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Kategoria:: Publikacja w czasopiśmie
Typ:: Publikacja w czasopiśmie
Opublikowano w:: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS nr 117, wydanie 24,
ISSN: 0021-8979
ISSN:: 0021-8979
Rok wydania:: 2015
DOI:: Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1063/1.4923229
Weryfikacja:: Brak weryfikacji

wyświetlono 80 razy

Wyszukiwarka