Dynamic Nanoimpedance Characterization of the Atomic Force Microscope Tip-Surface Contact - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Dynamic Nanoimpedance Characterization of the Atomic Force Microscope Tip-Surface Contact

Abstrakt

Nanoimpedance measurements, using the dynamic impedance spectroscopy technique, were carried out during loading and unloading force of a probe on three kinds of materials of different resistivity. These materials were: gold, boron-doped diamond, and AISI 304 stainless steel. Changes of impedance spectra versus applied force were registered and differences in the tip-to-sample contact character on each material were revealed. To enable comparison between materials and phases, a new standardization method is proposed, which simulates conditions of initial contact.

Cytowania

  • 3

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 4

    Scopus

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
Opublikowano w:
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS nr 20, wydanie 1, strony 72 - 77,
ISSN: 1431-9276
Język:
angielski
Rok wydania:
2014
Opis bibliograficzny:
Tobiszewski M., Zieliński A., Darowicki K.: Dynamic Nanoimpedance Characterization of the Atomic Force Microscope Tip-Surface Contact// MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. -Vol. 20, iss. 1 (2014), s.72-77
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1017/s1431927613013895
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 112 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi