Wyszukiwarka
Abstrakt
W pracy przedstawiono możliwość zastosowania dynamicznej spektroskopii impedancyjnej do pomiaru lokalnej impedancji z wykorzystaniem mikroskopu AFM. Kontakt sondy mikroskopu z próbką jest układem dynamicznym, który ulega ciągłym zmianom. Skanowanie powierzchni, zmiana docisku sondy, czy nawet dryft skanera piezoelektrycznego powodują zmianę geometrii kontaktu sonda-próbka. W związku z tym klasyczna odmiana pomiaru impedancji z sekwencyjną generacją częstotliwości może być zastosowana w ograniczonym zakresie. Dynamiczna spektroskopia impedancyjna umożliwia pokonanie ograniczeń związanych z brakiem stacjonarności układu i pomiar impedancji w trakcie ruchu sondy. Dzięki temu możliwe jest mapowanie impedancyjne, prowadzone w trakcie obrazowanie topografii. Prowadzenie obu pomiarów równocześnie zapewnia dokładną korelację zarejestrowanych obrazów.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Doktoraty, rozprawy habilitacyjne, nostryfikacje
- Typ:
- praca doktorska pracowników zatrudnionych w PG oraz studentów studium doktoranckiego
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2015
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 175 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy
- K. Darowicki,
- A. Zieliński,
- J. K. Kurzydłowski