Wyszukiwarka
Abstrakt
W pracy przedstawiono nowatorskie podejście do analizy impedancyjnej sprzężonej z mikroskopią sił atomowych. Stosowane współcześnie metody pomiaru impedancyjnego w kontaktowym trybie AFM opierają się na punktowym pomiarze zmiennoprądowym z wykorzystaniem sekwencyjnego, sinusoidalnego pobudzania badanego obiektu. Autorzy proponują wykorzystanie techniki dynamicznej, co umożliwia uzyskiwanie widm impedancyjnych w warunkach ciągłego skanowania powierzchni.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Ochrona przed Korozją
nr 1,
strony 335 - 339,
ISSN: 0473-7733 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2007
- Opis bibliograficzny:
- Darowicki K., Zieliński A.: Skaningowa impedancyjna mikroskopia sił atomowych// Ochrona przed Korozją. -Vol. 1., nr. 11s/A (2007), s.335-339
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 138 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy
- K. Darowicki,
- A. Zieliński,
- J. K. Kurzydłowski
2008