Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedstawiono przykład zastosowania techniki elipsometrii monochromatycznej w celu określenia dynamiki wzrostu warstw tlenkowych i wodorotlenkowych na miedzi w środowisku 0.1M NaOH. Badania te stanowią część projektu skupiającego się na oznaczeniu fizycznych i elektrycznych własności tlenku miedzi (I) oraz tlenku miedzi (II) podczas procesu formowania się warstwy. Jednoczesne pomiary elipsometryczne i impedancyjne są nowatorskie w skali światowej. W pracy tej, autorzy wyznaczają model optyczny dla układu wielowarstwowego, a także dyskutują możliwą strukturę powłoki. Implementacja aproksymacji EMA a także algorytm optymalizacji bazujący na przekształceniu Lavenberga-Marquardta zapewniają wysokie dopasowanie modelu do danych pomiarowych.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
JOURNAL OF SOLID STATE ELECTROCHEMISTRY
nr 13,
strony 1639 - 1644,
ISSN: 1432-8488 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2009
- Opis bibliograficzny:
- Bogdanowicz R., Ryl J., Darowicki K., Kosmowski B.: Ellipsometry study of oxide formation on Cu electrode in 0.1 M NaOH // JOURNAL OF SOLID STATE ELECTROCHEMISTRY. -Vol. 13, nr. iss. 11 (2009), s.1639-1644
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 112 razy