Enhancement of defects induced optical nonlinearity in Al: ZnO thin films by electron beam - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Enhancement of defects induced optical nonlinearity in Al: ZnO thin films by electron beam

Abstrakt

Cytowania

  • 7

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 7

    Scopus

Autorzy (9)

  • Zdjęcie użytkownika  Albin Antony

    Albin Antony

  • Zdjęcie użytkownika  Poornesh P

    Poornesh P

  • Zdjęcie użytkownika  J. Jedryka

    J. Jedryka

  • Zdjęcie użytkownika  K. Ozga

    K. Ozga

  • Zdjęcie użytkownika  Gopalkrishna Hegde

    Gopalkrishna Hegde

  • Zdjęcie użytkownika  Suresh Kulkarni

    Suresh Kulkarni

  • Zdjęcie użytkownika  Vikash Chandra

    Vikash Chandra

  • Zdjęcie użytkownika  Vijay Verma

    Vijay Verma

  • Zdjęcie użytkownika  Jishnu Dwivedi

    Jishnu Dwivedi

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
Publikacja w czasopiśmie
Opublikowano w:
MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING nr 128,
ISSN: 1369-8001
ISSN:
13698001
Rok wydania:
2021
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1016/j.mssp.2021.105747
Weryfikacja:
Brak weryfikacji

wyświetlono 2 razy

Meta Tagi