Implementation and Validation of Multisinusoidal, Fast Impedance Measurements in Atomic Force Microscope Contact Mode

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Kategoria:: Publikacja w czasopiśmie
Typ:: Publikacja w czasopiśmie
Opublikowano w:: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS nr 20, wydanie 03, strony 974 - 981,
ISSN: 1431-9276
ISSN:: 1431-9276
Rok wydania:: 2014
DOI:: Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1017/s1431927614000531
Weryfikacja:: Brak weryfikacji

wyświetlono 132 razy

Wyszukiwarka