Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów

Abstrakt

W artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Następnie mikrokontroler wykonuje detekcję i lokalizację uszkodzeń opierając się na algorytmie bazującym na słowniku uszkodzeń, wygenerowanym na podstawie rodziny pasów lokalizacyjnych opisującej właściwości układu badanego.

Cytuj jako

Pełna treść

pobierz publikację
pobrano 10 razy
Wersja publikacji
Accepted albo Published Version
Licencja
Creative Commons: CC-BY otwiera się w nowej karcie

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Opublikowano w:
Measurement Automation Monitoring nr 53, strony 731 - 734,
ISSN: 2450-2855
Język:
polski
Rok wydania:
2007
Opis bibliograficzny:
Czaja Z.: Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów// Pomiary Automatyka Kontrola. -Vol. 53., nr. nr 9 bis (2007), s.731-734
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 102 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi