Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 9
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (9)
Wyniki wyszukiwania dla: SAMO-TESTOWANIE
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Marketingu
Potencjał Badawczy* marketingu usług * marketingu relacji * badań marketingowych * kształtowania strategii marketingowej * analizy rynku * zarządzania wdrażaniem nowych produktów * marketingu przemysłowego * zarządzania i planowania marketingowego oraz zarządzania relacjami z klientami * kultury marketingowej * instrumentów marketingu - mix * systemów informacji marketingowej * rozwoju regionalnego i lokalnego w aspekcie działań marketingowych *...
-
Zespół Systemów Decyzyjnych i Robotyki
Potencjał BadawczyAutomatyka i Robotyka, która posiada silne posadowienie w matematycznej Teorii Systemów i Teorii Sterowania, już w połowie ubiegłego stulecia zaistniała w powszechnej świadomości jako Cybernetyka, która – kontynuując czerpanie wiedzy ze zjawisk istniejących w świecie natury – przekształciła się w Sztuczną Inteligencję, ciągle nie przestaje być dynamicznie rozwijającą się dziedziną z gruntu interdyscyplinarną, łączącą wiedzę i umiejętności...
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (3)
Wyniki wyszukiwania dla: SAMO-TESTOWANIE
-
Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
PublikacjaW artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny...
-
Diagnostyka uszkodzeń analogowych we wbudowanych systemach elektronicznych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej
PublikacjaPrzedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego w systemie wbudowanym sterowanym mikrokontrolerem. Podejście to bazuje na metodzie detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych elementów pasywnych w układach analogowych. W etapie pomiarowym badany tor analogowy pobudzany jest okresowym przebiegiem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez...
-
Metoda diagnostyki uszkodzeń parametrycznych w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych.
PublikacjaZaproponowano nowe podejście samo-testowania sieci analogowych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami oparte na zmodyfikowanej metodzie 2D. Cechuje się ono prostymi i łatwymi w implementacji algorytmami diagnostycznymi, które z powodzeniem można zaimplementować w prostych, powszechnie stosowanych mikrokontrolerach z interfejsem SPI oraz nie wymaga nadmiernej rozbudowy mikrosystemu o część testującą...