Wyniki wyszukiwania dla: SAMO-TESTOWANIE

• Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów

  Publikacja

  • Z. Czaja

  - Measurement Automation Monitoring - Rok 2007

  W artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny...

• Diagnostyka uszkodzeń analogowych we wbudowanych systemach elektronicznych z wykorzystaniem interpretera logiki rozmytej

  Publikacja

  • Z. Czaja
  • D. Załęski

  - Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania - Rok 2007

  Przedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego w systemie wbudowanym sterowanym mikrokontrolerem. Podejście to bazuje na metodzie detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych elementów pasywnych w układach analogowych. W etapie pomiarowym badany tor analogowy pobudzany jest okresowym przebiegiem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez...

• Metoda diagnostyki uszkodzeń parametrycznych w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych.

  Publikacja

  • Z. Czaja

  - Rok 2004

  Zaproponowano nowe podejście samo-testowania sieci analogowych w mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami oparte na zmodyfikowanej metodzie 2D. Cechuje się ono prostymi i łatwymi w implementacji algorytmami diagnostycznymi, które z powodzeniem można zaimplementować w prostych, powszechnie stosowanych mikrokontrolerach z interfejsem SPI oraz nie wymaga nadmiernej rozbudowy mikrosystemu o część testującą...