Mesoscopic impedance analysis of solid materials surface

Kazimierz Darowicki; Artur Zieliński

Mesoscopic impedance analysis of solid materials surface

Abstrakt

Several techniques have been developed in order to characterize electrical properties of surfaces in micrometer/nanometer scale. Obtaining of the spatial distribution of sample resistance, capacitance or potential requires separate measurements performed in different scanning modes. On the other hand, analysis of the frequency response of investigated system enables determination of several physical quantities in single measurement cycle. In this paper authors discuss possibility of obtaining the spatialimpedance characteristic by means of built-in capabilities of the AFM device. Factors influencing the measurements and shortcomings of the proposed methodology are discussed together with postulatedsolutions.

Autorzy (2)

Kazimierz Darowicki prof. dr hab. inż.
Artur Zieliński dr hab. inż.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:: Publikacja w czasopiśmie
Typ:: artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
Opublikowano w:: ELECTROCHIMICA ACTA nr 55, strony 7761 - 7765,
ISSN: 0013-4686
Język:: angielski
Rok wydania:: 2010
Opis bibliograficzny:: Darowicki K., Zieliński A.: Mesoscopic impedance analysis of solid materials surface// ELECTROCHIMICA ACTA. -Vol. 55, nr. iss. 26 (2010), s.7761-7765
Weryfikacja:: Politechnika Gdańska