Wyszukiwarka
Abstrakt
Rozrzuty tolerancyjne silnie wpływają na proces decyzyjny, oparty na testowaniu w pełni róznicowych układów elektronicznych metodą zorientowaną na uszkodzenia. Skutkiem tolerancji są napięcia rezidualne w nieuszkodzonym układzie testowanym, oraz niepewność progu komparacji w układzie testującym. W rezultacie pojawia się ryzyko błędnej diagnozy. W artykule dokonano syntezy probabilistycznego modelu odpowiedzi układu testowanego i zastosowano go, w połączeniu z uogólnionym modelem pomiaru, do oceny ryzyka błędnej decyzji diagnostycznej z punktu widzenia użytkownika i producenta układu testowanego.
Cytuj jako
Pełna treść
pobierz publikację
pobrano 28 razy
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Diagnostyka
strony 127 - 130,
ISSN: 1641-6414 - Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2008
- Opis bibliograficzny:
- Toczek W.: Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych// Diagnostyka. -., iss. nr 1=45 (2008), s.127-130
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 113 razy