Wyszukiwarka
Abstrakt
Noise has been used as a diagnostic tool of surge arrester varistor structures comprising of ZnO grains of various type and size. The physical and electrical properties of the measured samples have been described. In the experimental study, the applied measurement system and the results of noise measurements for the selected structures of varistors designed for the continuous working voltage 280 V, 440 V and 660 V have been presented. Noise properties are related to electrical characteristics of the measured specimens giving more distinctive results than their voltage–current characteristics. It is suggested that the proposed procedure can be applied as an effective non-destructive testing method focused on defects and structural heterogeneity detection in the tested objects to assess their preparation processes.
Cytowania
-
7
CrossRef
-
0
Web of Science
-
9
Scopus
Autorzy (5)
-
Vlasta Sedlakova
- Brno University of Technology Central European Institute of Technology "CEITEC"
Cytuj jako
Pełna treść
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1016/j.microrel.2013.09.007
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
MICROELECTRONICS RELIABILITY
nr 54,
wydanie 1,
strony 192 - 199,
ISSN: 0026-2714 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2014
- Opis bibliograficzny:
- Hasse L., Babicz-Kiewlicz S., Kaczmarek L., Smulko J., Sedlakova V.: Quality assessment of ZnO-based varistors by 1/f noise// MICROELECTRONICS RELIABILITY. -Vol. 54, iss. 1 (2014), s.192-199
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1016/j.microrel.2013.09.007
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 152 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Improving Objective Speech Quality Indicators in Noise Conditions
- K. Kąkol,
- G. Korvel,
- B. Kostek
Measurements of flicker noise in supercapacitor cells
- A. Szewczyk,
- Ł. Lentka,
- J. Smulko
- + 2 autorów