Self-testing of analog parts of mixed-signal electronic microsystems based on multiple sampling of time responses - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Self-testing of analog parts of mixed-signal electronic microsystems based on multiple sampling of time responses

Abstrakt

W artykule przedstawiono nowe podejście samo-testowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w mieszanych sygnałowo elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ono na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym zbiór próbek odpowiedzi czasowej układu badanego na pobudzenie impulsem prostokątnym na rodzinę krzywych identyfikacyjnych umieszczonych w przestrzeni pomiarowej. Metoda może być użyta do detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych elementów biernych układu ananlogowego. Do konwersji wyników pomiarowych do postaci wymaganej przez algorytmy detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz do tworzenia słownika uszkodzeń użyto zmodyfikowanych wzorów na DFT.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Aktywność konferencyjna
Typ:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Język:
angielski
Rok wydania:
2012
Opis bibliograficzny:
Czaja Z.: Self-testing of analog parts of mixed-signal electronic microsystems based on multiple sampling of time responses// / : , 2012,
Źródła finansowania:
  • Publikacja bezkosztowa
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 39 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi