Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 42
wybranych: 7
Filtry wybranego katalogu
Wyniki wyszukiwania dla: dna damage
-
Laboratorium Wysokich Napięć
Oferta BiznesowaBadania układów probierczych i pomiarowych stosowanych w technice wysokiego napięcia
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Oferta BiznesowaZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
-
Pracownia Fotogrametrii i Teledetekcji Niskiego Pułapu
Oferta BiznesowaW pracowni prowadzone są badania naukowe oraz zajęcia dydaktyczne z zakresu fotogrametrii cyfrowej i teledetekcji, szczególnie z niskiego pułapu czyli z bezzałogowych statków powietrznych. W ramach działań pracowni prowadzone są pomiary terenowe z użyciem nowoczesnych technik pomiarowych i bezzałogowych statków powietrznych, szkolenie lotnicze operatorów bezzałogowych statków powietrznych. Prace kameralne realizowane są na nowoczesnym...
-
Centrum Civitroniki – Centrum Zaawansowanych Technologii
Oferta BiznesowaCentrum Civitroniki działa na Wydziale Inżynierii Lądowej i Środowiska Politechniki Gdańskiej. W skład Centrum Cicitroniki wchodzą następujące pracownie:Pracownia DIM-Tefal, Pracownia defektorskopii, badań materiału i konstrukcji metalowych, Pracownia geodezyjnego monitorowania budowli inżynierskich, Pracownia badań drogowych, Pracownia fizyki budowli oraz Nazwa Civitronika jest wynikiem połączenia wyrażeń: „civil engineering”...
-
Laboratorium Badawcze 2-3
Oferta BiznesowaObliczenia komputerowe wymagające dużych mocy obliczeniowych z wykorzystaniem oprogramowania typu: Matlab, Tomlab, Gams, Apros.
-
FPGA/VHDL
Oferta Biznesowa -
Laboratorium Nanomateriałów CZT
Oferta BiznesowaBadanie właściwość powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych