Wyniki wyszukiwania dla: OBRAZ STEREOSKOPOWY - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Wyniki wyszukiwania dla: OBRAZ STEREOSKOPOWY

Filtry

wszystkich: 6
wybranych: 4

wyczyść wszystkie filtry


Filtry wybranego katalogu

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Wyniki wyszukiwania dla: OBRAZ STEREOSKOPOWY

  • Inteligentne Systemy Interaktywne

    Naturalne interfejsy, umożliwiające inteligentną interakcję człowiek-maszyna z możliwością oddziaływania na możliwie wszystkie zmysły człowieka równocześnie i bez potrzeby jego wcześniejszego szkolenia w zakresie używania typowych urządzeń zewnętrznych komputera, w tym z wykorzystaniem metod automatycznego rozpoznawania i syntezy mowy, biometrii, proaktywnych (samo-wykonywalnych) dokumentów elektronicznych, rozpoznawania emocji...

  • Katedra Elektrotechniki, Systemów Sterowania i Informatyki

    W Katedrze Elektrotechniki, Systemów Sterowania i Informatyki prowadzone są badania w tematyce podstaw elektrotechniki, zaawansowanych systemów sterowania, prototypowania dedykowanych rozwiązań sprzętowych w FPGA. Prowadzone badania skupiają się również na wykorzystaniu zaawansowanych technik analizy komputerowej w systemach sterowania oraz elektrotechniki.

  • Zespół Katedry Konstrukcji Maszyn i Pojazdów

    * Badania własności smarów i cieczy technicznych * Badania tarcia i zużycia elementów maszyn - dobór materiałów na współpracu-jące elementy, dobór środków smarowych, dobór alternatywnych materiałów umożliwiających pracę bez smarowania lub przy smarowaniu wodą * Badania diagnostyczne maszyn i urządzeń, badania trwałości i niezawodności * Projektowanie i optymalizacja konstrukcji nietypowych maszyn i urządzeń * Projektowanie urządzeń...

  • Zespół Metrologii i Optoelektroniki

    * komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR