Filtry
wszystkich: 3
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (2)
Wyniki wyszukiwania dla: CANTILEVERS
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Katedry Konstrukcji Betonowych
Potencjał BadawczyZagadnienia badawcze realizowane w Katedrze Konstrukcji Betonowych obejmują głównie tematykę zjawisk zachodzących w betonie i stali oraz mechanizmów pracy elementów i konstrukcji żelbetowych. Dzięki odpowiednio wyposażonemu laboratorium Katedra posiada możliwość prowadzenia badań elementów konstrukcyjnych oraz materiałów budowlanych. Pracownicy Katedry posiadają szeroką wiedzę i doświadczenie dotyczące konstrukcji budowlanych,...
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (1)
Wyniki wyszukiwania dla: CANTILEVERS
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Oferta BiznesowaZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (6)
Wyniki wyszukiwania dla: CANTILEVERS
-
Alternative way of the main reinforcement anchorage in reinforced short cantilevers
PublikacjaThe results of the experimental investigation of the reinforced corbels and dapped end beams with steel studs were introduced in the work. The efficiency of this type of the reinforcement was compared with the typical reinforcenet applied in reinforced conctrete construcions.
-
Integration of Fluorescent, NV-Rich Nanodiamond Particles with AFM Cantilevers by Focused Ion Beam for Hybrid Optical and Micromechanical Devices
PublikacjaIn this paper, a novel fabrication technology of atomic force microscopy (AFM) probes integrating cantilever tips with an NV-rich diamond particle is presented. Nanomanipulation techniques combined with the focused electron beam-induced deposition (FEBID) procedure were applied to position the NV-rich diamond particle on an AFM cantilever tip. Ultrasonic treatment of nanodiamond suspension was applied to reduce the size of diamond...
-
Focused ion beam-based microfabrication of boron-doped diamond single-crystal tip cantilevers for electrical and mechanical scanning probe microscopy
PublikacjaIn this paper, the fabrication process and electromechanical properties of novel atomic force microscopy probes utilising single-crystal boron-doped diamond are presented. The developed probes integrate scanning tips made of chemical vapour deposition-grown, freestanding diamond foil. The fabrication procedure was performed using nanomanipulation techniques combined with scanning electron microscopy and focused ion beam technologies....
-
The influence of reinforcement on load carrying capacity and cracking of the reinforced concrete deep beam joint
PublikacjaThe paper presents the results of experimental research of the spatial reinforced concrete deep beam systems orthogonally reinforced and with additional inclined bars. Joint of the deep beams in this research was composed of the longitudinal deep beam with a cantilever suspended at the transversal deep beam. The cantilever deep beam was loaded throughout the depth and the transversal deep beam was loaded at the mid-span by longitudinal...
-
Force-deformation spectroscopy in contact mode
Dane BadawczeThe deformation-distance spectroscopic curve is obtained by registering the value of the probe cantilever deflection as a function of the elongation of the piezoelectric scanner. It assumes a simple relationship in the form of Hooke’s law, linking the deformation of the lever with the amount of its deflection caused by the proximity of the probe and...