Wyniki wyszukiwania dla: EXPLAINABLE CLASSIFIERS, COUNTERFACTUAL APPROACH, BIAS DETECTION - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Wyniki wyszukiwania dla: EXPLAINABLE CLASSIFIERS, COUNTERFACTUAL APPROACH, BIAS DETECTION

Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (89)

Wyniki wyszukiwania dla: EXPLAINABLE CLASSIFIERS, COUNTERFACTUAL APPROACH, BIAS DETECTION

  • Katedra Elektrotechniki, Systemów Sterowania i Informatyki

    W Katedrze Elektrotechniki, Systemów Sterowania i Informatyki prowadzone są badania w tematyce podstaw elektrotechniki, zaawansowanych systemów sterowania, prototypowania dedykowanych rozwiązań sprzętowych w FPGA. Prowadzone badania skupiają się również na wykorzystaniu zaawansowanych technik analizy komputerowej w systemach sterowania oraz elektrotechniki.

  • Architektura Systemów Komputerowych

    Główną tematyką badawczą podejmowaną w Katedrze jest rozwój architektury aplikacji i systemów komputerowych, w szczególności aplikacji i systemów równoległych i rozproszonych. "Architecture starts when you carefully put two bricks together" - stwierdza niemiecki architekt Ludwig Mies von der Rohe. W przypadku systemów komputerowych dotyczy to nie cegieł, a modułów sprzętowych lub programowych. Przez architekturę systemu komputerowego...

  • Zespół Systemów Geoinformatycznych

    W katedrze prowadzone są badania naukowe w zakresie szeroko rozumianych Systemów Informacji Geograficznej (GIS). Tematyka badań obejmuje zastosowanie GIS w technologiach bezpieczeństwa, wizualizacje i analizy przestrzenne, systemy numerycznego prognozowania pogody, technologie nawigacji w ramach mobilnych systemów informacji przestrzennej, oraz zaawansowane techniki obrazowania satelitarnego. Katedra kontynuuje również badania...

Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (22)

Wyniki wyszukiwania dla: EXPLAINABLE CLASSIFIERS, COUNTERFACTUAL APPROACH, BIAS DETECTION

Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (285)

Wyniki wyszukiwania dla: EXPLAINABLE CLASSIFIERS, COUNTERFACTUAL APPROACH, BIAS DETECTION