Filtry
wszystkich: 3
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (2)
Wyniki wyszukiwania dla: FUNKCJA KOHERENCJI
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Systemów i Sieci Radiokomunikacyjnych
Potencjał BadawczyAktualnie zespół Katedry prowadzi działalność badawczą w dziedzinie szeroko rozumianej radiokomunikacji, przy czym do najważniejszego nurtu naszej działalności zaliczamy badania systemowe w następujących obszarach: trendy rozwojowe współczesnej radiokomunikacji obejmujące systemy LTE, nowe interfejsy radiowe oraz zarządzanie zasobami radiowymi, radio programowalne określane skrótowo nazwą SDR (Software Defined Radio), zwłaszcza...
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (1)
Wyniki wyszukiwania dla: FUNKCJA KOHERENCJI
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Oferta BiznesowaStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (1)
Wyniki wyszukiwania dla: FUNKCJA KOHERENCJI
-
Shaping coherence function of sources used in low-coherent measurement techniques
PublikacjaW niskokoherencyjnych technikach pomiarowych kształt funkcji koherencji wykorzystywanego źródła ma bezpośredni wpływ na parametry metrologiczne układu pomiarowego. Z tego względu, w wielu aplikacjach niezbędne jest użycie metod pozwalających na zmianę kształtu tej funkcji. W artykule przeanalizowano możliwości kształtowania funkcji koherencji, a przedstawione analizy teoretyczne i wyniki symulacji komputerowych wskazują, że kształtowanie...