Filtry
wszystkich: 1
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (1)
Wyniki wyszukiwania dla: INTERFEROMETRIA NISKOKOHERENTNA
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (10)
Wyniki wyszukiwania dla: INTERFEROMETRIA NISKOKOHERENTNA
-
Optical low-coherence interferometry for selected technical applications
PublikacjaW artykule przedstawiono teoretyczne podstawy optycznej interferometrii niskokoherentnej i przedyskutowano jej unikatowe właściwości. Opisano w nim opracowany przez autorów system OCT przeznaczony do badań strukturalnych materiałów technicznych. Badania te obejmują także zmiany stanu polaryzacji promieniowania rozproszonego w badanym obiekcie. W artykule zawarto wyniki badań wybranych materiałów silnie rozpraszających promieniowanie...
-
Multilayered structures examination using polarization sensitive optical coherence tomography
PublikacjaW artykule przedstawiono wstępne wyniki badań struktur warstwowych z użyciem systemu optycznej tomografii koherentnej z analizą stanu poaryzacji (PS-OCT). Omówiono budowę systemu oraz zakres stosowalności metody do badania złożonych struktur warstwowych.
-
Shaping coherence function of sources used in low-coherent measurement techniques
PublikacjaW niskokoherencyjnych technikach pomiarowych kształt funkcji koherencji wykorzystywanego źródła ma bezpośredni wpływ na parametry metrologiczne układu pomiarowego. Z tego względu, w wielu aplikacjach niezbędne jest użycie metod pozwalających na zmianę kształtu tej funkcji. W artykule przeanalizowano możliwości kształtowania funkcji koherencji, a przedstawione analizy teoretyczne i wyniki symulacji komputerowych wskazują, że kształtowanie...
-
Analiza stanu polaryzacji światła w układach optycznej tomografii koherentnej dla badań struktury materiałów optoelektronicznych i mikroelektronicznych
PublikacjaTematem rozprawy jest analiza stanu polaryzacji światła w optycznej tomografii koherentnej (OCT). Zagadnienie to dotyczy pomiaru stanu polaryzacji światła wsteczne odbitego lub wstecznie rozproszonego przez wewnętrzną strukturę badanego obiektu. Umożliwia to badanie właściwości optycznie anizotropowych materiałów, co pozwala na charakteryzację i rozróżnianie warstw tworzących wewnętrzną strukturę badanego obiektu oraz śledzenie...
-
Metody matematyczne syntezowania źródeł optycznych do interferometrów niskokoherentnych dla zastosowa biomedycznych
PublikacjaW pracy przedstawiono mozliwosci wykorzystania metod matematycznych w układach interferometrii niskokoherentnej do zastosowan biomedycznych. Metody takie sa wykorzystywane na kazdym z etapów realizacji układów: projektowania poszczególnych elementów, obróbki danych pomiarowych oraz w trakcie walidacji techniki pomiarowej. W pracy przedstawiono mozliwosci optymalizacji parametrów metrologicznych interferometrów niskokoherentnych...