Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 9
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (8)
Wyniki wyszukiwania dla: KARTY KONTROLNE
-
Katedra Inżynierii Zarządzania Operacyjnego
Potencjał Badawczy* procesy i zarządzanie innowacjami w organizacjach gospodarczych * procesy i zarządzanie zmianą w systemach produkcyjnych * zarządzanie projektami, programami oraz portfolio projektów innowacyjnych i rozwojowych * modelowanie i doskonalenie procesów oraz systemów produkcyjnych * projektowanie i optymalizacja technologii informatycznych w inteligentnych systemach produkcyjnych * ilościowe metody wspomagania decyzji w systemach...
-
Zespół Projektowania i Automatyzacji Procesów Technologicznych
Potencjał BadawczyProjektowanie procesów technologicznych wspomaganych komputerowo
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (1)
Wyniki wyszukiwania dla: KARTY KONTROLNE
-
Laboratorium Inżynierii Jakości LAB Q
Oferta Biznesowa1. Six sigma – podstawy 2. Six Sigma – wybrane narzędzia (m.in. analiza rozkładu - rozkład normalny/dwumianowy, normalizacja rozkładu – centralne twierdzenie graniczne) 3. Six Sigma - testowanie hipotez (rozróżnianie grup komponentów na podstawie pomiarów i analizy statystycznej) z wykorzystaniem programu Minitab 4. Analiza systemów pomiarowych (MSA) dla pomiarów powtarzalnych z wykorzystaniem programu Minitab (m.in. Gage R&R...
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (1)
Wyniki wyszukiwania dla: KARTY KONTROLNE
-
[Rozdział] 2. Podstawowe pojęcia statystyki
PublikacjaPrzedstawiono podstawowe pojęcia dotyczące praktycznego wykorzystania statystyki w pomiarach analitycznych. Opisano najczęściej wykorzystywane rozkłady zmiennych losowych. Podano także praktyczne algorytmy stosowania testów statystycznych. Przedstawiono charakterystykę poszczególnych parametrów statystycznych. Opisano najczęściej wykorzystywane karty kontrolne a także charakterystykę metody regresji liniowej. Podano sposob poprawnego...