Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 147
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (108)
Wyniki wyszukiwania dla: LOW-FREQUENCY NOISE
-
Zespół Systemów Automatyki
Potencjał BadawczyW dziedzinie dydaktyki, przez wszystkie lata istnienia, katedra pełniła wiodącą rolę w kształceniu automatyków na wydziale sprawując opiekę nad specjalnościami, których nazwa i przynależność do kierunku studiów zmieniała się kilkakrotnie wraz ze zmianami organizacyjnymi zarówno struktury wydziału jak programu studiów. Ostatecznie, w 1991 roku utworzony został nowy kierunek studiów Automatyka i Robotyka, który pozostaje pod pieczą...
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Katedry Systemów Automatyki
Potencjał BadawczyZespół Katedry Systemów Automatyki zajmuje się zarówno teorią, jak i praktyczną realizacją urządzeń sterujących obiektami technicznymi i procesami technologicznymi bez udziału człowieka lub z jego ograniczonym udziałem. Układy i systemy automatyki wkraczają we wszystkie niemal dziedziny życia, zwłaszcza w gospodarkę, przemysł i naukę. Korzyści wynikające z automatyzacji i robotyzacji widać wyraźnie, zwłaszcza w przemyśle (samochodowym,...
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (39)
Wyniki wyszukiwania dla: LOW-FREQUENCY NOISE
-
Laboratorium Wysokich Napięć
Oferta BiznesowaBadania układów probierczych i pomiarowych stosowanych w technice wysokiego napięcia
-
Laboratorium Badań Drogowych
Oferta Biznesowa -
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Oferta BiznesowaStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (5803)
Wyniki wyszukiwania dla: LOW-FREQUENCY NOISE
-
The Low-frequency Noise of SiC MESFETs
PublikacjaPrzedstawiono system do pomiaru szumów małoczestotliwościowych tranzystorów SiC MESFET oraz przykładowe wyniki pomiarów.
-
The Low Frequency Noise Behaviour of SiC MESFETs
Publikacja -
A Model for Low Frequency Noise Generation in MOSFETs.
PublikacjaPrzedstawiono model generacji szumów małoczęstotliwosciowych tranzystora MOS. Model został użyty do symulacji szumów cienkotlenkowych tranzystorów MOS. Wyniki symulacji porównano z danymi pomiarowymi. Zaprezentowano sposób wykorzystania pomiarów szumów m.cz. do wyznaczania niektórych parametrów charakteryzujących tranzystory MOS.
-
Assessment of Supercapacitor’s Quality by Means of Low Frequency Noise
PublikacjaLow frequency noise is a well-known tool for quality and reliability assessment of electronic devices. This phenomenon is observed in different electrochemical devices as well (e.g., smart windows, electrochemical corrosion processes). Thus, we can assume that the same tool can be used to asses quality of supercapacitors. Their quality is usually determined only by capacitance and/or equivalent series resistance (ESR), or impedance....
-
Shipping Low Frequency Noise and Its Propagation in Shallow Water
PublikacjaOne of the most significant factor influencing acoustical climate of the sea is underwater noise generated by moving ships. If the considered sea area has features of the shallow water, namely the wave frequency fulfils relation f < 10c/h, where c denotes phase speed of sound, and h is depths of the sea, then in certain distance from the wave source specific image of sound pressure distribution in the mean of wave modes appears....