Filtry
wszystkich: 1
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (1)
Wyniki wyszukiwania dla: MIKROSYSTEMY POMIAROWE
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (2)
Wyniki wyszukiwania dla: MIKROSYSTEMY POMIAROWE
-
Metody i mikrosystemy pomiarowe impedancji do diagnostyki grubowarstwowychpowłok antykorozyjnych.**2003, 104 s. 90 rys. 18 tab. bibliogr. 106 poz. Rozprawa doktorska (04.03.2003 r.), Wydz. ETI. Promotor: prof. dr inż. R. Zielonko.
PublikacjaPraca jest rozprawą doktorską, której celem było opracowanie nowych metodpomiarowych i procedur diagnostycznych powłok antykorozyjnych, zwłaszczagrubowarstwowych, drogą identyfikacji parametrów impedancyjnych ich modeli(układów zastępczych), nadających się do realizacji praktycznej w mikrosys-temach pomiarowych przeznaczonych do pracy w terenie oraz realizacja przyk-ładowego mikrosystemu pomiarowo-diagnostycznego powłok...
-
Wbudowany mikroserwer TCP/IP na potrzeby akwizycji i transmisji danych pomiarowych
PublikacjaW pracy przedstawiono wbudowany mikroserwer TCP/IP, który został opracowany przez autora. Opisano konstrukcję mikroserwera, zarówno od strony sprzętowej jak i od strony jego oprogramowania. Omówiono także przykładowe zastosowania mikroserwera przy akwizycji danych pomiarowych w rozległych sieciach pomiarowych.