Filtry
wszystkich: 72
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (57)
Wyniki wyszukiwania dla: POKRYCIE DIAGNOSTYCZNE DC
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Systemów Mikroelektronicznych
Potencjał Badawczy* projektowania I optymalizacji układów i systemów mikroelektronicznych * zaawansowane metody projektowania i optymalizacji analogowych filtrów aktywnych * programowanie układów scalonych (FPGA, CPLD, SPLD, FPAA) * układy specjalizowane ASIC * synteza systemów o małym poborze mocy * projektowanie topografii układów i zagadnień kompatybilności elektromagnetycznej * modelowania przyrządów półprzewodnikowych * modelowania właściwości...
-
Zespół Technologii Sieciowych i Inżynierii Bezpieczeństwa
Potencjał Badawczy1. Analizy bezpieczeństwa funkcjonalnego infrastruktury krytycznej; 2. Modelowanie, synteza oraz projektowanie systemów monitorowania, sterowania i automatyki zabezpieczeniowej z wykorzystaniem techniki mikroprocesorowej, sterowników programowalnych PLC i systemów informatycznych; 3. Diagnostyka i zarządzanie procesami eksploatacji systemów technicznych.
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (15)
Wyniki wyszukiwania dla: POKRYCIE DIAGNOSTYCZNE DC
-
Laboratorium Źródeł Energii w Katedrze Konwersji i Magazynowania Energii
Oferta Biznesowa -
Laboratorium Automatyki Napędu Elektrycznego
Oferta BiznesowaProgramowalne układy napędowe zasilane przekształtnikowo ze sterowaniem mikroprocesorowym
-
Laboratorium Diagnostyki Silników i Sprężarek Tłokowych
Oferta BiznesowaIdentyfikacja stanu technicznego głównych układów funkcjonalnych silników spalinowych i sprężarek w oparciu o wyniki badań diagnostycznych.
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (559)
Wyniki wyszukiwania dla: POKRYCIE DIAGNOSTYCZNE DC
-
Metody modelowania probabilistycznego systemów związanych z bezpieczeństwem i ich implementacja komputerowa.
PublikacjaPrzedstawiono metody modelowania systemów związanych z bezpieczeństwem. Podkreślono znaczenie ilościowego modelowania probabilistycznego systemów elektrycznych, elektronicznych i programowalnych elektronicznych (E/E/PE). Przedstawiono również wspomagane komputerowo weryfikowanie poziomów SIL oraz modelowanie probabilistyczne systemów sterowania i automatyki zabezpieczeniowej z weryfikacją wyników względem przedziałów kryterialnych.
-
Metody analizy systemów sterowania i zabezpieczeń z uwzględnieniem kryteriów bezpieczeństwa funkcjonalnego.
PublikacjaW rozprawie zaprezentowane zostały metody analizy probabilistycznej systemów sterowania i zabezpieczeń z uwzględnieniem kryteriów bezpieczeństwa funkcjonalnego. Przedstawione metody stosowane są w procesie weryfikacji poziomów nienaruszalności bezpieczeństwa SIL systemów elektrycznych, elektronicznych i programowalnych elektronicznych E/E/PE. W związku z występowaniem problemu oceny niepewności w oszacowaniach probabilistycznych...
-
Determining diagnostic coverage of elements and analysis of subsystems` architectural constraints
PublikacjaWypełnienie funkcji bezpieczeństwa przez systemy E/E/PE łączy się z niezawodnym działaniem podsystemów, których struktura i właściwości muszą gwarantować skuteczne i szybkie wykrywanie uszkodzeń. Do określenia przeciętnego prawdopodobieństwa niewypełnienia funkcji bezpieczeństwa na żądanie (PFDavg) niezbędna jest znajomość pokrycia diagnostycznego w odniesieniu do wszystkich podsystemów. Najlepiej, aby podsystemy były zaliczane...
-
Analiza niezawodności i bezpieczeństwa maszyn i instalacji
PublikacjaW rozdziale przedstawiona została koncepcja kompleksowego zarządzania niezawodnością i bezpieczeństwem złożonej maszyny krytycznej w oparciu o analizy i oceny ryzyka prowadzone na podstawie metod wykorzystujących modele probabilistyczne. Istotne są tu parametry modelu, takie jak: intensywność uszkodzeń elementów składowych, intensywność odnowy, pokrycie diagnostyczne, czas pomiędzy prowadzeniem testów i inne, w zależności od specyfiki...
-
AutoCAD - DC Edukacja
Kursy OnlineAutoCAD DC Edukacja