Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 121
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (86)
Wyniki wyszukiwania dla: POMIAR GRUBOŚCI WARSTW
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Inżynierii Spajania
Potencjał BadawczySpawalność i ocena trwałości eksploatacyjnej materiałów konstrukcyjnych
-
Zespół Materiałów Konstrukcyjnych
Potencjał BadawczyKształtowanie własności materiałów konstrukcyjnych i opis ich środowiskowej degradacji
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (35)
Wyniki wyszukiwania dla: POMIAR GRUBOŚCI WARSTW
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Oferta BiznesowaStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Oferta BiznesowaZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
-
Laboratorium Fizyki i Elektrodynamiki
Oferta BiznesowaPodstawowe zjawiska fizyczne i informatyczne systemy rozproszone
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (1364)
Wyniki wyszukiwania dla: POMIAR GRUBOŚCI WARSTW
-
Pomiary grubości cienkich warstw metodą modulacji chromatycznej.
PublikacjaTematem artykułu jest pomiar grubości struktur cienkowarstwowych szerokostosowanych w optoelektronice, transparentnych warstw dielektrycznych. Grubość jest najistotniejszym parametrem warstwy i determinuje jej właściwościoptyczne. Metoda pomiaru grubości cienkich warstw powinna być bezkontaktowa, nieniszcząca, niekosztowna oraz odporna na zakłócenia
-
Optoelektroniczne metody pomiaru grubości cienkich transparentnych warstw wytwarzanych w procesach próżniowych.
PublikacjaW artykule opisano problemy związane z określaniem grubości cienkich transparentnych warstw dielektrycznych, syntetyzowanych w procesach próżniowych. Przedstawiono stosowane metody pomiarowe, szczególny nacisk kładąc na techniki optoelektroniczne, oparte na badaniu interferencji i zmiany stanu polaryzacji światła w wyniku oddziaływania z cienką warstwą oraz na analizie spektralnej. Opisano praktyczne układy, umożliwiające pomiary...
-
Wpływ współczynnika promienia walca i stosunku grubości warstw na odkształ- cenie warstwy twardej. The influence of radius of rolls coefficient and re-lations of thickness layers at the deformation of hard layers of bimetalic plate
PublikacjaW pracy przedstawiono analizę numeryczną walcowania blachy platerowanej 18 G2A i 0H18N10T. Wytwarzanie blach dwuwarstwowych jest procesem trudnym do rozwiązania na drodze teoretycznej. Do analizy procesu wykorzystano program Forge 2 oparty na teorii elementów skończonych. Artykuł przedstawia wpływ wartości współczynnika promienia walcaH/R i stosunku grubości warstw HT/HM na charakter rozkładu odkształceń blachy dwuwarstwowej.
-
Zastosowanie interferometrii niskokoherentnej do jednoczesnego pomiaru grubości i współczynnika załamania struktur warstwowych
PublikacjaW pracy przedstawiono techniki oparte na interferometrii niskokoherentnej jednoczesnego pomiaru współczynnika załamania i grubości struktur warstwowych. Zaproponowano dwie metody: pierwsza oparta jest na pomiarze położenia górnej powierzchni granicznej warstwy i jej grubości optycznej (położenie dolnej powierzchni granicznej powinno być znane wcześniej); druga oparta jest na wykorzystaniu dynamicznego ogniskowania wiązki laserowej....
-
Chromatic monitoring technique for thickness measurementof thin transparent films.IV Workshopon Atomic and Molecular Physics.
PublikacjaW pracy opisano nową technikę monitorowania grubości cienkich warstw podczas procesu ich syntezy. Jest to optyczna metoda oparta na zdegenerowanej analizie widmowej tzw. modulacji chromatycznej. Umożliwia ona precyzyjny ciągły pomiar zmian grubości wzrastających warstw stosowanych w optyce.