Pomiar zdeterminowanych wartości nierówności profili powierzchni wyrażanych cyfrowo jest złożonym problemem interdyscyplinarnym, który zawiera istotne ograniczenia techniczne i metrologiczne, często niezauważane w praktyce pomiarowej i analizie ich wyników. Należy odpowiednio przyjąć cyfrowe parametry pomiaru profili powierzchni przed pomiarami, by spełnione były różne uwarunkowania zależne od charakteru nierówności oraz celu i...

W pracy przedstawiono możliwość zastosowania dynamicznej spektroskopii impedancyjnej do pomiaru lokalnej impedancji z wykorzystaniem mikroskopu AFM. Kontakt sondy mikroskopu z próbką jest układem dynamicznym, który ulega ciągłym zmianom. Skanowanie powierzchni, zmiana docisku sondy, czy nawet dryft skanera piezoelektrycznego powodują zmianę geometrii kontaktu sonda-próbka. W związku z tym klasyczna odmiana pomiaru impedancji...

Analiza pomiaru cyfrowych nierówności profili jest złożonym problemem interdyscyplinarnym, którego parametry powinny uwzględniać ich charakter i cele postawione dla badanych nierówności powierzchni. Normatywne wysokościowe ujęcia nierówności oraz długościowe, punktowe i inne parametry nie oddają jednoznacznie cech powierzchni, dlatego też poznawcze i badawcze analizy profili powinny być prowadzone funkcjami amplitudowo-częstotliwościowymi...

Niniejsza praca zawiera rezultaty badań rozkładu obciążeń kawitacyjnych w tunelu kawitacyjnym z szczelinowym wzbudnikiem kawitacji. Badania te stanowią wstęp do badań odporności kawitacyjnej materiałów w wybranych warunkach. Powiązanie obu części ze sobą pozwoli na wyznaczenie związku pomiędzy obciążeniem kawitacyjnym powierzchni badanego materiału a przebiegiem jego erozji kawitacyjnej. W badaniach posłużono się metodą bezpośrednią...