Wyniki wyszukiwania dla: REFLEKTOMETRIA NISKOKOHERENCYJNA
Znaleźliśmy mało wyników, wypróbuj alternatywnej metody wyszukiwania.
Filtry
wszystkich: 1
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (1)
Wyniki wyszukiwania dla: REFLEKTOMETRIA NISKOKOHERENCYJNA
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (1)
Wyniki wyszukiwania dla: REFLEKTOMETRIA NISKOKOHERENCYJNA
-
Optyczna tomografia niskokoherentna w badaniach obiektów technicznych
PublikacjaW pracy przedstawiono polaryzacyjny system OCT pracujący w dziedzinie czasu z detekcją zrównoważoną do badań obiektów technicznych. Obiektem badań z wykorzystaniem tego systemu były warstwy wykonane z ceramiki PLZT 9/65/35. Mierzone były grubości tych warstw i ich jednorodność.