Filtry
wszystkich: 87
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (66)
Wyniki wyszukiwania dla: SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
-
Katedra Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej
Potencjał BadawczyBadania realizowane przez pracowników Katedry obejmują w szczególności: zjawiska i procesy elektrochemiczne, podstawy korozji i zabezpieczenie przed korozją, inżynierię materiałowa, fizykochemię powierzchni. W Katedrze Elektrochemii, Korozji i Inżynierii Materiałowej realizowanych jest szereg kierunków związanych z badaniami podstawowymi jak i techniczno-technologicznymi. Głównymi obszarami działalności naukowej są: badania mechanizmu...
-
Katedra Technologii Polimerów
Potencjał BadawczyW Katedrze Technologii Polimerów realizowane są prace badawczo-wdrożeniowe, wykonywane ekspertyzy i analizy oraz prowadzone są szkolenia w zakresie technologii polimerów oraz przetwórstwa i recyklingu tworzyw sztucznych. Oferujemy nowe technologie i przeprowadzamy modyfikacje technologii już istniejących.
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (21)
Wyniki wyszukiwania dla: SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
-
Scanning Electron Microscopy Facility
Oferta Biznesowa -
Laboratorium Nanomateriałów CZT
Oferta BiznesowaBadanie właściwość powierzchni z wykorzystaniem mikroskopu sił atomowych
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Oferta BiznesowaZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (1804)
Wyniki wyszukiwania dla: SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
-
Analysis of metals in air particles from Gdańsk and London with EDX/EDS detectors in electron microscope
PublikacjaElectron microscopy with energy dispersive X-ray spectrometry (EDX/EDS) is the example of non-destructive analytical method for surface elemental analysis, with a potential detection limit of 0.1-0.5 wt.% for most elements. A spatial resolution <10 nm can be achieved using this technique, which provides a basis for the generation of quantitative and qualitative elemental data for individual particles. In order to obtain quantitative...
-
The topography of various sialoliths by scanning electron microscopy
Dane BadawczeThis dataset contains SEM micrographs taken for salivary gland stones (sialolith) extracted during joint studies between the Medical University of Gdansk and Gdansk University of Technology. Three different types of stones were examined, as discussed in the article: 10.1111/odi.13708
-
The Scanning Electron Microscopy images of three arthropods
Dane BadawczeThe dataset contains micrographs of various arthropods made with the Scanning Electron Microscopy (SEM) technique. The images were done during the laboratory with students from the Faculty of Chemistry. Among the studied species, there is a fruit fly (lat.Drosophila melanogaster), a spider (most likely Sibianor aurocinctus), and a weevil insect (Curculionoidea).
-
JEOL JSM-T330A Scanning Electron Microscope
Aparatura Badawcza -
SEM (scanning electron microscopy) and TEM (transmission electron microscopy) images of PMD and PMH
Dane BadawczeThese data contains SEM (scanning electron microscopy) and TEM (transmission electron microscopy) images of PMD and PMH. TEM was performed on a FEI Tecnai F30 transmission electron microscope operating at an acceleration voltage of 200 kV. SEM was done with a SEM, XL30ESEM-FEG with an acceleration voltage of 20 KV. Sample abbreviations (PMH, PMD) are...