Wyszukiwarka
Filtry
wszystkich: 10
Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (6)
Wyniki wyszukiwania dla: SURFACE METROLOGY
-
Zespół Katedry Fizyki Teoretycznej i Informatyki Kwantowej
Potencjał BadawczyPrace naukowe prowadzone w Katedrze dotyczą współczesnych zagadnień fizyki teoretycznej i informatyki kwantowej. W ramach współpracy międzynarodowej stworzony został w Katedrze program komputerowy umożliwiający obliczanie relatywistycznych przejść w atomach i jonach. Jego celem jest dostarczenie danych atomowych potrzebnych do interpretacji pomiarów plazmy astrofizycznej i laboratoryjnej. Dane atomowe obejmują nie tylko siły oscylatorów...
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Potencjał Badawczy* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Zarządzania Jakością i Metrologii
Potencjał BadawczyBadania naukowe związane z zarządzaniem jakością, pomiarami wielkości, geometrii i powierzchni przedmiotów.
Najlepsze wyniki w katalogu: Oferta Biznesowa Pokaż wszystkie wyniki (4)
Wyniki wyszukiwania dla: SURFACE METROLOGY
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Oferta BiznesowaStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
-
Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów
Oferta BiznesowaZespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...
-
Laboratorium Diagnostyki Silników i Sprężarek Tłokowych
Oferta BiznesowaIdentyfikacja stanu technicznego głównych układów funkcjonalnych silników spalinowych i sprężarek w oparciu o wyniki badań diagnostycznych.
Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (32)
Wyniki wyszukiwania dla: SURFACE METROLOGY
-
A plateau-valley separation approach (PVSA) for reduction of the end-effect in surface metrology
Publikacja -
Fatigue fracture surface metrology of thin-walled tubular austenitic steel specimens after asynchronous loadings
PublikacjaThis paper aims to study the effect of asynchronous axial-torsional strain-controlled loading histories on fracture surface behavior of thin-walled tubular X5CrNi18-10 (304/304L) austenitic steel specimens. Tests under pure axial loading and pure torsional loading are also conducted to better segregate the effect of multiaxiality. The fractures surface topographies were examined through the profiles over the entire surface with...
-
Surface Topography-Metrology and Properties
Czasopisma -
The impact of surface slope and calculation resolution on the fractal dimension for fractures of steels after bending-torsion fatigue
PublikacjaThe article presents the results of the fractal dimension measurements on the fatigue fracture surfaces of 10HNAP and S355J2 steels specimens after combined bending-torsion fatigue. For smooth and ring-notched specimens, three loading conditions were analyzed: (1) bending; (2) bending-torsion; and (3) torsion fatigue. Post-failure surface topography measurements were carried out on the entire fracture surfaces using an optical...
-
Quantum metrology: Heisenberg limit with bound entanglement
PublikacjaQuantum entanglement may provide a huge boost in the precision of parameter estimation. However, quantum metrology seems to be extremely sensitive to noise in the probe state. There is an important still open question: What type of entanglement is useful as a resource in quantum metrology? Here we raise this question in relation to entanglement distillation. We provide a counterintuitive example of a family of bound entangled states...